值得骄傲的是，Ultra-X技术被投票入选为2022年Microscopy Today Innovation Awards奖项的最佳显微创新之一。这份荣耀是对Nestor Zaluzec，以及苏科思科技和赛默飞世尔研发团队多年辛勤工作和团队合作的肯定。
Ultra-X探测系统已经被吉尼斯世界纪录评为地球上最灵敏的X射线探测系统。
Ultra-X是针对赛默飞的高端透射显微镜Ultra S/TEM 研发的探测系统。其工作原理，是基于能量色散X射线 (EDX)光谱分析，利用电子束进行扫描样品，其精度可以达到原子水平。电子与样品中不同材料的相互作用可以产生特定X射线，各种原子及其特征特征，可实现更生动的可视化，并精确到50pm(皮米)。
